Ana Sayfa
Altyapımız
Karakterizasyon

SEM ve XRD Lab

X-ışını difraksiyon cihazı 

  Panalytical Empyrean Series 2 (NL)

  1. Pixcel 1D dedektör
  2. Line Focus ve Point Focuslu, Cu anotlu tüp
  3. FDS, Bragg Brentano HD (BBHD) ve point focus (300 µm spot size) optik
  4. Toz numuneler için 45'li otomatik numune değiştirici ve numune tutucu
  5. Kamera ile manipüle edilebilen X, Y, Z ekseninde hareket eden numune tutucu

 

Highscore Plus 4.x yazılım

  1. ICSD database (480.000 referans kart) ile kalitatif faz eşleştirme
  2. Rietveld Refinement ile kantitatif faz analizi
  3. Rietveld Refinement ile atom pozisyonları ve occupancy hesaplama
  4. Scherrer formülüyle kristal boyutu  hesaplama
     

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

TESCAN Vega II (CZ)

  1. 1-30 kV hızlandırma voltajı
  2. Seconder elektron (SE) ve Backscattered elektron (BSE) dedektörleri
  3. Bruker EDX ataçmanı
  4. Yarı kantitatif nokta ve çizgielementel analiz
  5. Kalitatif elementel haritalama (mapping)
  6. Altın kaplama (yardımcı ekipman)